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JASIS2012 (分析展)の出展内容紹介<不具合メカニズムの推定事例>

JASIS2012(分析展)に出展します。

 開催日:2012年9月5日(水)〜7日(金)
 開催場所:幕張メッセ国際展示場
 小間番号:5B-710

出展内容紹介「不具合メカニズムの推定事例」

当社では当社ではめっき専門分析者による不良解析を行っております。
今回は「熱処理後のめっき皮膜表面変色発生に対する解析」を事例として掲載しております。

表面観察だけでは分からないことが、
断面解析にて、また、的確な視点で解析することにより、より多くのことが見えてきます。
そして、めっき専業企業としてこれまで培ってきた知識と経験を活用することによって、
不具合メカニズムの推定につながります。

各項目の詳細につきましては”受託分析”のページからもご確認いただけます。

また、展示会当日は分析担当者がお待ちしております。お気軽にお問い合わせ下さい。


リンク
受託分析TOP

テーマ:展示会    【 2012年09月01日 】