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メッキ技術に「装置紹介」を掲載いたしました。

半導体にめっきした製品をレーザー顕微鏡を使って測長しています。

●レーザー顕微鏡の原理 
  短波長レーザー光源と白色光源により、反射光量・色調情報を取得する。
Z軸方向にスキャンを繰り返し、得られたデータを元に3次元画像を構築する。

●特徴
  SEM並みの鮮明な画像をカラーで観察でき、非接触で高精度な3次元測定が可能。

●用途
  バンプ高さ、バンプ径、配線幅、段差測定などに利用。


リンク
メッキ技術紹介

テーマ:お知らせ    【 2019年06月25日 】