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科学技術大賞3

★開発の内容
これまで主流だったテストピース法とは、対象製品と同じめっき液を用いてテスト用のサンプルを作成して分析する方法です。電子部品は小さいため、分析に必要な面積をテストピースによって得ていました。電子部品における金属中の規制物質分析法の国際規格として、IEC62321があります。この方法は、均質材料を対象としており、サンプル量は1g必要となります。また、全溶解して分析する手法ですので、テストピース法でないと対応できない状況となっております。
一方、お客様からは、製品で直接、めっき層毎に、規制物質の含有量分析を、速く、安く、正確に、実施したいとの要望が多くありました。この理由としては、製品のスクリーニング検査でグレーになった製品を調査する場合、それからテストピースを作成するのでは、遅い上に現物ではないという問題があります。また、めっきが2層以上ある場合、テストピースは、めっき層毎にそれぞれ作成しなければなりません。
そこで、私たちは、お客様からのご要求に対して、めっき製品少量でめっき層毎に規制物質の含有量を測定する方法を開発しました。テストピース法ではなく、直接製品を分析する方法として、ISO/IEC17025の試験所認定を受けることにも成功しました。これにより、弊社で分析した結果は、世界中で通用するものとなりました。


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めっき皮膜中の環境規制物質微量分析の開発

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テーマ:嬉しい受賞・認定    【 2015年05月13日 】