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SEM Users Meeting(大阪) JEOL

2013年7月18日(木) 千里ライフサイエンスセンター にて、
日本電子株式会社様のSEM Users Meetingがありました。
その中で、「ナノめっき技術開発及び不具合解析」というタイトルで
弊社、品質保証部 畑中が発表させていただきました。

めっきの品質保証、ナノめっき開発として不具合解析といった様々なシーンでSEMをはじめとした分析機器が必要です。
そして、装置の取り扱いだけではなく、解析結果を診る目を養うことが必要です。
という内容で、発表させていただきました。

講演後、多くの方と情報交換させていただきました。
このような発表の機会を与えてくださいました日本電子の皆様、本当にありがとうございました。


テーマ:キラりと光る分析力    【 2013年07月25日 】