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認定範囲試験「めっき膜厚測定」

その3「非破壊でのめっき膜厚測定」

めっきの厚さをJIS H 8501の蛍光X線式膜厚試験法によって測定します。
サンプルにX線を照射し発生する蛍光X線の量を測定することで、めっきの厚さを求める方法です。測定するめっきの種類や厚みに合わせて、検量線を作成しています。正しく測定できているかを断面膜厚によって確認し、信頼性を確認しています。認定範囲となるめっき種類と膜厚定量範囲は以下の通りとなります。

測定可能なめっき種と膜厚範囲
Niめっき 1.729μm ≦ 膜厚 ≦ 9.20μm
Crめっき 0.020μm ≦ 膜厚 ≦ 0.083μm
Znめっき 2.41μm ≦ 膜厚 ≦ 21.7μm
Snめっき 1.155μm ≦ 膜厚 ≦ 9.41μm
Auめっき 0.050μm ≦ 膜厚 ≦ 0.863μm

★ この試験方法は、非破壊でスピーディーに膜厚を測れることが特長です。
・ 壊すことができないサンプルに(製品の出荷検査や高価な品物の調査など)
・ 多量のポイントを測定したい場合に(面内ばらつきの調査やn数が必要な場合など)

その4「断面研磨によるめっき膜厚測定」

めっきの厚さをJIS H 8501の顕微鏡断面試験法によって測定します。


サンプルの垂直断面を顕微鏡で観察して、めっきの厚さを求める方法です。







断面研磨技術は、精確な膜厚測定のための重要なファクターです。摩擦によるキズやダレを低減することにこだわって精確な膜厚を測定しております。







スズめっき


ニッケルめっき


 


 







顕微鏡拡大画像







研磨







断面

サンプルを樹脂に埋め込み、垂直に研磨していくことで断面を露出させます。目的のポイントまで微調整が可能です。 

測定方法

測定方法 / 認定範囲試験「めっき膜厚測定」
★この試験方法は、より精確に膜厚を測れることが特長です。蛍光X線の精度確認にも有効!
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