スマートフォン版を表示
清川メッキTOP > 分析機器 > めっき液自動分析装置

 

めっき液自動分析装置

設備名 めっき液自動分析装置
メーカー 各メーカー品を使用
型  式 各年代
仕  様 ニッケル、銅、ニッケル−リン合金めっきなど多種多様
仕様用途 めっき加工において、めっき液の濃度の安定は、品質の安定のための重要な要素です。
設置・登録日 2009/05
備  考

めっき液自動分析の活用と効果
めっき液自動分析の活用と効果 / めっき液自動分析装置

めっき加工において、めっき液の濃度の安定は、品質の安定のための重要な要素です。めっき液の自動分析・自動補給の導入により、めっき液の濃度は、最適な値に維持されます。また、薬品補給が最適化されるため、化学物質の使用量が抑えられ、資源の消費や、排水の負担低減へも効果が期待できます。
さらに、自動分析・自動補給で得られた管理データは、手動の場合に比べて圧倒的多数となります。これらの多くの知的財産は、清川メッキとしての技術のみならず、薬品メーカーと連携して、更なる技術として活用され、独自性を増した、めっき工法へと進化していきます。
清川メッキは、膨大なデータ→データ解析→傾向、特徴分析→独自管理技術の構築→品質向上へとつなげています。
また、この事が、省資源化、節水、省エネ、コスト削減へと社会へ貢献できるものづくりとなっています。


自動分析器・自動補給を導入していない場合
自動分析器・自動補給を導入していない場合 / めっき液自動分析装置

一般的に、自動分析・自動補給を導入していない場合は、薬品の補給タイミングに制限を受けます。分析に掛かる時間から補給の頻度が制限されるだけでなく、めっき中の急激な濃度変化や、薬品補給による極端に濃い処理液を避けるためです。そのため、めっき液の濃度変動が大きくなり、1回当たりの補給量も多くなります。また、分析・補給に掛かる時間が、休止時間に影響を与えます。


自動分析器・自動補給を導入た場合
自動分析器・自動補給を導入た場合 / めっき液自動分析装置

一方、自動分析・自動補給を導入したプロセスでは、短い間隔で分析をすることが容易になり、1回当たりの補給量もめっき液の濃度変動も小さくすることができます。めっき液の濃度変化は、常に発生していますが、この変化を最小限に維持することで、ロット内変動は勿論のこと、ロット間変動も抑えることができます。


分析装置と補給装置の働き
分析装置と補給装置の働き / めっき液自動分析装置

無電解ニッケル−リンの主成分は、硫酸ニッケルと次亜リン酸ナトリウムですが、現場分析で次亜リン酸ナトリウムを分析することは珍しく、多くは、硫酸ニッケルとp.Hを分析、管理しています。
まず、分析装置では、一定時間毎にめっき液を吸引し、硫酸ニッケルとp.Hを独立して測定します。そして、硫酸ニッケルの濃度に合わせて、ニッケル剤を、また、p.H値に合わせて、p.H調整剤を補給しています。次亜リン酸は、補給したニッケル剤に相応の量を補給します。また、一般的に無電解ニッケルのめっきは、高温で、水の蒸発も多いことから、自動給水の仕組みを持つこともあります。
一方、補給装置は、分析装置と密接に連動し、分析装置からの信号により、ニッケル剤やp.H調整剤を、一定量補給し、再び分析して、必要に応じて、これを繰り返します。また、濃度やめっき液のMTO(無電解めっき液の消耗度を示す指数)に合わせて、補給量や、めっき条件を自動調整する場合もあります。
分析、補給された結果は、表示、または印刷され、SPC管理に利用されます。


分析・測定の原理

(1) p.H測定
一般的なp.H計と同様の、複合型ガラス電極で測定します。p.H計は、p.H標準液によって定期的に校正され、0.01単位で管理されます。
(2) 硫酸ニッケル濃度
サンプリングしためっき液は、石英の分析セルを通過しますが、分析セルでは、吸光分析(※)という手法によって、ニッケルの濃度を分析します。


※:吸光分析
※:吸光分析 / めっき液自動分析装置

水溶液中の物質濃度を分析する原理の一つ。光が試料中を通過する際に吸収される量を測定することによって行う分析手法。ランベルト・ベールの法則(※2)に従い、あらかじめ、濃度が分かった標準液で校正しておくことで、試料の濃度を知ることができる。
※2:ランベルトベールの法則
媒質に入射する前の光の放射照度をI0、媒質中を距離L移動したときの光の強度をI1としたとき、

α=吸収係数
ε=モル吸光係数
c=媒質のモル濃度
つまり、溶液の中に照射された光は、溶液中で一部が吸収され、弱くなって出てきます。その吸収の程度は、溶液の濃度に比例します。



分析機器
特性分析
接触角計
ソルダーシェアテスター
不飽和型超加速寿命試験装置(PCT)
引張試験機
マルチソルダーテスター
温湿度試験機
はんだ濡れ性試験機
外観分析
CCD付き顕微鏡
走査型電子顕微鏡(SEM)
電界放射形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
3次元レーザー顕微鏡
サーフェイスプロファイラー
卓上顕微鏡(Miniscope)
無機分析
吸光分光光度計
自動滴定分析装置
キャピラリー電気泳動分析装置
エネルギー分散型X線分析装置(EDX)
マルチ型ICP発光分析装置(ICP-OES)
VA重金属分析装置
エネルギー分散型 蛍光X線分析装置(EDX)
エネルギー分散型 微小部蛍光X線分析装置(μEDX)
めっき液自動分析装置
高分解能連続光源原子吸光分析装置(HR-CS AAS)
ICP-OES
有機分析
CVS分析装置
CVS分析装置(ECI製)
その他
クロスセクション ポリッシャー(CP)
埋め込み研磨ラインアップ
ページTOPへ